陈岑

基本信息 论文著作 教育教学 新建主栏目 基本信息 名称 陈岑，副教授、硕士生导师，小米青年学者，哈工大英才学院本硕博连读（2010-2019），新加坡国立大学全奖交换生（本科）、美国马里兰大学CALCE中心联培博士。 研究方向：电子系统可靠性预计、故障诊断与健康管理 科学研究：面向航天装备可靠性提升需求，致力于电子系统可靠性预计、故障诊断与健康管理研究，主持国家部委纵向课题2项，参与课题4项。发表SCI、EI论文25篇。担任国家部委某预研专项项目管理办公室常务副主任。担任可靠性国际会议副主席2次，受邀做国际会议特邀报告1次。获国家部委科技进步一等奖。 人才培养：指导学生竞赛获“中国工业智能挑战赛全国特等奖”等国家级奖项3项、省级奖励1项。担任班主任的班级获校级优秀团支部标兵、校级优秀团支部称号。指导学生论文获国际会议“最佳汇报论文奖”、研究生国家奖学金、校级优秀毕业设计论文。 荣誉称号 称号名称 研究生国家奖学金 获奖时间 2014年10月 获奖地点 简单介绍 称号名称 研究生国家奖学金 获奖时间 2018年10月 获奖地点 简单介绍 称号名称 第十届中国工业智能挑战赛优秀指导教师奖 获奖时间 2022年8月 获奖地点 简单介绍 称号名称 小米青年学者 获奖时间 2022年10月 获奖地点 简单介绍 教育经历 名称 2014.09--2019.12 哈尔滨工业大学电气工程专业 工学博士 2017.09--2018.10 美国马里兰大学CALCE中心 CSC联培博士生 2012.01--2012.06 新加坡国立大学 全奖交换生 2010.09--2014.07 哈尔滨工业大学英才学院 工学学士 工作经历 名称 2022.12--至今 哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院 副教授 2020.04--2022.12 哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院 讲师 2020.01--至今 哈尔滨工业大学材料科学与工程博士后流动站 博士后 主要任职 名称 国家部委预研专项项目管理办公室常务副主任 中国系统工程学会系统可靠性分委会委员 电工产品可靠性与电接触国际会议国际委员会副主席 系统可靠性与安全工程国际会议出版副主席、分会场主席 IEEE Transactions on Industrial Electronics、Reliability Engineering & System Safety、Journal of Power Electronics等SCI期刊审稿人 论文期刊 论文标题 Model-Based Quality Consistency Analysis of Permanent Magnet Synchronous Motor Cogging Torque in Wide Temperature Range 作者 C Chen*, C Sun, L Wu, X Ye, G Zhai 发表时间 2022 期刊名称 Quality and Reliability Engineering International 期卷 简单介绍 论文标题 Reliability Estimation of Complex Systems based on a Wiener Process with Random Effects and D-vine Copulas 作者 B Zheng, C Chen*, W. Zhang, R Fu, Y Hu, Y Lin, C Wang, G Zhai 发表时间 2022 期刊名称 Microelectronics Reliability 期卷 简单介绍 论文标题 A New Class of Multi-stress Acceleration Models with Interaction Effects and Its Extension to Accelerated Degradation Modelling 作者 X Ye, Y Hu, B Zheng, C Chen, G Zhai 发表时间 2022 期刊名称 Reliability Engineering & System Safety 期卷 108815 简单介绍 论文标题 Reliability Analysis Based on a Bivariate Degradation Model Considering Random Initial State and Its Correlation With Degradation Rate 作者 B Zheng, C Chen*, Y Lin, X Ye, G Zhai 发表时间 2022 期刊名称 IEEE Transactions on Reliability 期卷 简单介绍 论文标题 Optimal Design of Step-stress Accelerated Degradation Test Oriented by Nonlinear and Distributed Degradation Process 作者 B Zheng, C Chen*, Y Lin, Y Hu, X Ye, G Zhai, E Zio 发表时间 2022 期刊名称 Reliability Engineering & System Safety 期卷 简单介绍 论文标题 Soft Fault Diagnosis Using URV-LDA Transformed Feature Dictionary 作者 C Chen, Y Yang, X Ye, G Zhai 发表时间 2021 期刊名称 IEEE Access 期卷 简单介绍 论文标题 Life-Cycle Dynamic Robust Design Optimization for Batch Production of Permanent Magnet Actuator 作者 X Ye, H Chen, C Chen*, G Zhai 发表时间 2021 期刊名称 IEEE Transactions on Industrial Electronics 期卷 简单介绍 论文标题 Reliability Assessment of Film Capacitors Oriented by Dependent and Nonlinear Degradation Considering Three-source Uncertainties 作者 X Ye, Y Hu, B Zheng, C Chen*, R, S Liu, G Zhai 发表时间 2021 期刊名称 Microelectronics Reliability 期卷 简单介绍 论文标题 Life-cycle Reliability Design Optimization of High-power DC Electromagnetic Devices based on Time-dependent Non-probabilistic Convex Model Process 作者 X Ye, H Chen, Q Sun, C Chen*, H Niu, G Zhai, W Li, R Yuan 发表时间 2020 期刊名称 Microelectronics Reliability 期卷 简单介绍 论文标题 The Threshold Voltage Degradation Model of N Channel VDMOSFETs under PBT Stress 作者 X Ye, K Zhang, C Chen, Z Li, Y Wang, G Zhai 发表时间 2018 期刊名称 Microelectronics Reliability 期卷 简单介绍 论文标题 A Joint Distribution-based Testability Metric Estimation Model for Unreliable Tests 作者 X Ye, C Chen*, M Kang, G Zhai, M Pecht 发表时间 2018 期刊名称 IEEE Access 期卷 简单介绍 论文标题 Fault Localization of a Switched Mode Power Supply based on Extended Integer-coded Dictionary Method 作者 X Ye, C Chen*, G Zhai 发表时间 2018 期刊名称 Microelectronics Reliability 期卷 简单介绍 论文标题 VDMOSFET HEF Degradation Modelling considering Turn-around Phenomenon 作者 X Ye, C Chen*, Y Wang, L Wang, G Zhai 发表时间 2018 期刊名称 Microelectronics Reliability 期卷 简单介绍 论文标题 Online Condition Monitoring of Power MOSFET Gate Oxide Degradation based on Miller Platform Voltage 作者 X Ye, C Chen*, Y Wang, G Zhai, GJ Vachtsevanos 发表时间 2016 期刊名称 IEEE Transactions on Power Electronics 期卷 简单介绍 专利 专利名称 一种考虑工作温度影响的三相换流器软故障诊断方法 专利号 ZL202211271247.8 发明人 陈岑；孙承志；杜赫；杨赟；张笑生；苏连禹；叶雪荣；翟国富 申请时间 2022 专利类别 发明 简单介绍 专利名称 基于多物理场数字样机模型的开关电源可靠性预计方法 专利号 ZL202211268656.2 发明人 陈岑；代文鑫；刘未铭；苏连禹；叶雪荣；翟国富 申请时间 2022 专利类别 发明 简单介绍 专利名称 一种基于多模型协同的数模混合电路设备可靠性预计方法 专利号 ZL202211269128.9 发明人 陈岑；孙祺森；蒋威钧；王知非；张笑生；叶雪荣；翟国富 申请时间 2022 专利类别 发明 简单介绍 专利名称 一种基于初值-速率相关退化模型的可靠性评估方法 专利号 ZL202210459927.6 发明人 陈岑; 郑博恺; 张东; 杜俊亮; 叶雪荣; 翟国富 申请时间 2022 专利类别 发明 简单介绍 专利名称 一种用于电路系统的分层序贯测试性建模方法 专利号 ZL202010464342.4 发明人 陈岑; 叶雪荣; 杨赟; 王浩南; 胡义凡; 翟国富 申请时间 2020 专利类别 发明 简单介绍 专利名称 一种基于多退化机理耦合的电磁继电器退化建模方法 专利号 ZL201911267928.5 发明人 陈岑; 陈昊; 翟国富; 叶雪荣 申请时间 2019 专利类别 发明 简单介绍 讲授课程 名称 主讲本科选修课程《电气系统可靠性分析与设计》、助讲博士研究生课程《电气可靠性及故障诊断技术》。 招生信息 名称 硕士招生方向： 功率半导体器件故障诊断与预测； 电力电子设备测试性设计与故障诊断； 电力电子设备可靠性预计。