刘辰光

个人简介 科研成果 论文专著 专利授权 研究方向 新建主栏目 个人简介 名称 哈尔滨工业大学研究员，博导，入选中国科协青年人才托举工程，全国光电测量标准化技术委员会委员，中国光学学会空间光学委员会委员，中国仪器仪表学会青年委员。长期从事光学立体显微成像与计量、超分辨显微成像方向研究。发表SCI检索论文30余篇，授权中国发明专利30余项，软件著作权6项，国际PCT 3项，起草国家标准5项，参与撰写英文专著2部。主持/参与国家自然科学基金、国家重大基础设施建设项目及国家重大仪器设备开发专项等。获国家技术发明二等奖1项（序2），中国计量测试学会科技进步一等奖1项（序2），哈尔滨工业大学第一届“青年科研新星奖”。 招收精密光学测量方向硕士/博士，请联系cg.liu@hit.edu.cn 工作经历 名称 2023.12 至今 哈尔滨工业大学 环物院 长聘研究员 2021.12 至今 哈尔滨工业大学 环物院 研究员2019.12-2021.12 哈尔滨工业大学 环物院 副研究员2016.09-2019.12 哈尔滨工业大学 环物院 助理研究员 教育经历 标题 起讫时间 2015.03-2016.04 所学专业 基于微波谐振技术的石墨烯表面电导率测量 学习机构 英国国家物理实验室（NPL） 学历 学术访问 简单介绍 标题 起讫时间 2012.09-2016.07 所学专业 仪器科学与技术 学习机构 哈尔滨工业大学 学历 博士 简单介绍 标题 起讫时间 2010.09-2012.07 所学专业 光学工程 学习机构 西南交通大学 学历 硕士 简单介绍 标题 起讫时间 2005.09-2009.07 所学专业 电子科学与技术 学习机构 西南交通大学 学历 本科 简单介绍 奖项成果 奖项名称 国家技术发明二等奖 获奖时间 2020年 完成人 刘俭，刘辰光，胡旭，王宇航，李亮，杨春丽 所获奖项 超精密三维显微测量技术与仪器 简单介绍 奖项名称 中国计量测试学会科技进步奖一等奖 获奖时间 2017年 完成人 刘俭，刘辰光，李亮，李梦周，王平，王宇航，王伟波，杨玉林，缪寅宵，刘柯 所获奖项 共焦显微测量及其标准化计量理论 简单介绍 奖项名称 中国标准创新贡献奖三等奖 获奖时间 2022年 完成人 刘俭、李梦周、明翠新、陈刚、施玉书、谭久彬、王伟波、刘辰光、王宇航、李亮 所获奖项 GB/T 34879-2017《产品几何技术规范（GPS）光学共焦显微镜计量特性及测量不确定度评定导则》 简单介绍 奖项名称 高等教育（研究生）国家级教学成果奖一等奖 获奖时间 2022年 完成人 谭久彬,邹丽敏,王伟波,陆振刚,胡鹏程,付海金,马惠萍,刘永 猛,崔俊宁,刘辰光,杨宏兴,王赫岩,孙传智,刘炳国,杨彬 所获奖项 面向仪器强国建设的仪器科技创新领军人才培养模式 与实践 简单介绍 论文期刊 论文标题 High-resolution dark-field confocal microscopy based on radially polarized illumination 作者 Zijie Hua, Jian Liu, Chenguang Liu* 发表时间 2022-03-18 期刊名称 Optics Express 期卷 简单介绍 论文标题 Compact dark-field confocal microscopy based on an annular beam with orbital angular momentum 作者 Jian Liu, Zijie Hua, Chenguang Liu* 发表时间 2021-11-15 期刊名称 Optics Letters 期卷 简单介绍 论文标题 3D dark-field confocal microscopy for subsurface defects detection 作者 Jian Liu, Jing Liu, Chenguang Liu* 发表时间 2020-02-01 期刊名称 Optics Letters 期卷 简单介绍 论文标题 Peak extraction in fluorophore-aided scattering microscopy 作者 Chenguang Liu, Jian Liu*, Jiubin Tan 发表时间 2019.09 期刊名称 Surface Topography: Metrology and Properties 期卷 2019, 7(4): 045007 简单介绍 论文标题 作者 发表时间 期刊名称 期卷 简单介绍 论文期刊 论文标题 Monte Carlo based analysis of confocal peak extraction uncertainty 作者 Chenguang Liu, Yan Liu, Tingting Zheng, Jiubin Tan, Jian Liu* 发表时间 2017.09 期刊名称 Meas.Sci. Technol. 期卷 2017, 28(10): 105016 简单介绍 论文期刊 论文标题 A promising solution to the limits of microscopes for smooth surfaces: fluorophore-aided scattering microscopy 作者 Liang Li, Jian Liu*, Yan Liu, Chenguang Liu*, He Zhang, Xiaoyu You, Kang Gu, Yuhang Wang, Jiubin Tan 发表时间 2018.05 期刊名称 Nanoscale 期卷 2018, 10(20): 9484-9488 简单介绍 论文期刊 论文标题 Consistent optical characterization on nano-layers 作者 Jian Liu, He Zhang, Chenguang Liu*, Liang Li, Yujie Sun, Jiubin Tan 发表时间 2019.03 期刊名称 Surface Topography: Metrology and Properties 期卷 (2019) 015023 简单介绍 论文期刊 论文标题 Accurate aberration correction in confocal microscopy based on modal sensor-less method 作者 Jian Liu, Weisong Zhao, Chenguang Liu*, Chenqi Kong, Yixuan Zhao, Xiangyan Ding, Jiubin Tan 发表时间 2019.05 期刊名称 Review of scientific instruments 期卷 2019, 90(5): 053703 简单介绍 论文期刊 论文标题 Accelerated and high-quality Fourier ptychographic 作者 Jian Liu, Yong Li, Weibo Wang, Jiubin Tan, Chenguang Liu* 发表时间 2018.09 期刊名称 Optics Express 期卷 2018, 26(20): 26556-26565 简单介绍 论文期刊 论文标题 Elliptical mirror-based TIRF microscopy with shadow-less illumination and adjustable penetration depth 作者 Jian Liu, Qiang Li, Mengzhou Li, Shan Gao, Chenguang Liu*, Limin Zou, Jiubin Tan 发表时间 2017.07 期刊名称 Optics Letters 期卷 2017, 42(13): 2587-2590 简单介绍 论文期刊 论文标题 Artifact-free penetration-adjustable elliptical mirror based TIRF microscopy 作者 Jian Liu, Chenqi Kong, Qiang Li, Weisong Zhao, Mengzhou Li, Shan Gao, Chenguang Liu*, Jiubin Tan 发表时间 2018.09 期刊名称 Optics Express 期卷 2018, 26(20): 26065-26079 简单介绍 论文期刊 论文标题 Stable and robust frequency domain position compensation strategy for Fourier ptychographic microscopy 作者 Jian Liu, Yong Li, Weibo Wang, He Zhang, Yuhang Wang, Jiubin Tan, Chenguang Liu* 发表时间 2017.11 期刊名称 Optics Express 期卷 2017, 25(23): 28053-28067 简单介绍 论文期刊 论文标题 Calibration method for depth measurement of nano-microstructure in scanning probe microscopy 作者 Jian Liu, Kang Gu, Mengzhou Li, Xiaoyu You, Chenguang Liu*, Yuhang Wang*, Jiubin Tan 发表时间 2019.07 期刊名称 计量学报 期卷 简单介绍 授权专利 名称 1. 变焦双光子光镊显微成像装置和方法 ZL201711242152.2 (第一发明人) 2. 变焦光镊双光子显微成像装置和方法 ZL201711242277.5 (第一发明人) 3. 变焦共聚焦光镊显微成像装置和方法 ZL201711240871.0 (第一发明人) 4. 变焦光镊共聚焦显微成像装置及方法 ZL201711238079.1 (第一发明人) 5. 光镊光片显微成像装置和方法 ZL201711246969.7 (第一发明人) 6. 基于结构光照明的面形测量装置和方法 ZL201711238066.4 (第一发明人) 7. 基于结构光照明的面形测量装置和方法 ZL201711242382.9 (第一发明人) 8. 基于结构光照明的面形测量装置和方法 ZL201711238219.5 (第一发明人) 9. 基于结构光照明的面形测量装置和方法 ZL201711238050.3 (第一发明人) 10. 基于结构光照明的面形测量装置和方法 ZL201711242122.1 (第一发明人) 11.基于极性散射的超分辨全内反射显成像装置及方法 ZL2020100591416 (第一发明人) 12. 基于频谱合成的超分辨全内反射显微成像装置和方法 ZL2020100564777 (第一发明人) 研究方向一：表面及亚表面缺陷一体化检测技术 名称 研究方向二：大口径光学元件原位三维显微测量 名称 研究方向三：芯片三维缺陷自动化检测技术 名称 研究方向四：微束辐照双光子显微工作站 名称 研究方向五：高折射率光波导超分辨全内反射显微成像技术 名称